Cart (0)
- No items in cart.
Total
$0
There is a technical issue about last added item. You can click "Report to us" button to let us know and we resolve the issue and return back to you or you can continue without last item via click to continue button.
Not a subscriber? Register for a trial account.
Already a subscriber? 
MADCAD.com Free Trial
Sign up for a 3 day free trial to explore the MADCAD.com interface, PLUS access the
2009 International Building Code to see how it all works.
If you like to setup a quick demo, let us know at support@madcad.com
or +1 800.798.9296 and we will be happy to schedule a webinar for you.
| Email * | |
| Password * | |
| Confirm * | |
| First Name * | |
| Last Name * | |
| Title | |
| Company Name * | |
| Company Size * | |
| Industry * | |
| Address * | |
| Address 2 | |
| City * | |
| State * |
Zip *
|
| Country * | |
| Phone * | |
| How did you hear about MADCAD.com? * |
|
Reset password
Enter your personal account email address to request
a password reset:
a password reset:
Reset password
Enter your account email address to request
a password reset:
a password reset:
Security check
Please login to your authorized staff account to use this feature.
Are you sure you want to empty the cart?
Report To Us
Contact us for a custom quote
⨯To continue with accurate pricing,
please select your company type below:
⨯We need your input!
Are you a code official in a jurisdiction with less than 300,000 population?
⨯ We need your input!
⨯ We need your input!
⨯We need your input!
Are you an existing Madcad user?
If so, please login to continue with the free items in your cart.
⨯We need your input!
This bundle includes subscribed items.
eLibrary >
BS EN 62433-4:2016 EMC IC modelling - Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation. Conducted immunity modelling (ICIM-CI) >
BS EN 62433-4:2016 EMC IC modelling - Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation. Conducted immunity modelling (ICIM-CI), 2016
- 30310477-VOR.pdf [Go to Page]
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms, definitions, abbreviations and conventions [Go to Page]
- 3.1 Terms and definitions
- 3.2 Abbreviations
- 3.3 Conventions
- 4 Philosophy
- 5 ICIM-CI model description [Go to Page]
- 5.1 General
- 5.2 PDN description
- 5.3 IBC description
- 5.4 IB description
- 6 CIML format [Go to Page]
- 6.1 General
- 6.2 CIML structure
- 6.3 Global keywords
- 6.4 Header section
- 6.5 Lead definitions
- 6.6 SPICE macro-models
- 6.7 Validity section [Go to Page]
- 6.7.1 General
- 6.7.2 Attribute definitions
- 6.8 PDN [Go to Page]
- 6.8.1 General
- 6.8.2 Attribute definitions
- 6.8.3 PDN for a single-ended input or output
- 6.8.4 PDN for a differential input
- 6.8.5 PDN multi-port description
- 6.9 IBC [Go to Page]
- 6.9.1 General
- 6.9.2 Attribute definitions
- 6.10 IB [Go to Page]
- 6.10.1 General
- 6.10.2 Attribute definitions
- 6.10.3 Description
- 7 Extraction [Go to Page]
- 7.1 General
- 7.2 Environmental extraction constraints
- 7.3 PDN extraction [Go to Page]
- 7.3.1 General
- 7.3.2 S-/Z-/Y-parameter measurement
- 7.3.3 RFIP technique
- 7.4 IB extraction [Go to Page]
- 7.4.1 General
- 7.4.2 Direct RF power injection test method
- 7.4.3 RF Injection probe test method
- 7.5 IBC
- 8 Validation of ICIM-CI hypotheses [Go to Page]
- 8.1 General
- 8.2 Linearity
- 8.3 Immunity criteria versus transmitted power
- 9 Model usage
- Annexes [Go to Page]
- Annex A (normative) Preliminary definitions for XML representation [Go to Page]
- A.1 XML basics [Go to Page]
- A.1.1 XML declaration
- A.1.2 Basic elements
- A.1.3 Root element
- A.1.4 Comments
- A.1.5 Line terminations
- A.1.6 Element hierarchy
- A.1.7 Element attributes
- A.2 Keyword requirements [Go to Page]
- A.2.1 General
- A.2.2 Keyword characters
- A.2.3 Keyword syntax
- A.2.4 File structure
- A.2.5 Values
- Annex B (informative) ICIM-CI example with disturbance load
- Annex C (informative) Conversions between parameter types [Go to Page]
- C.1 General
- C.2 Single-ended input or output
- C.3 Differential input or output
- Annex D (informative) Example of ICIM-CI macro-model in CIML format
- Annex E (normative) CIML Valid keywords and usage [Go to Page]
- E.1 Root element keywords
- E.2 File header keywords
- E.3 Validity section keywords
- E.4 Global keywords
- E.5 Lead keyword
- E.6 Lead_definitions section attributes
- E.7 Macromodels section attributes
- E.8 Pdn section keywords [Go to Page]
- E.8.1 Lead element keywords
- E.8.2 Netlist section keywords
- E.9 Ibc section keywords [Go to Page]
- E.9.1 Lead element keywords
- E.9.2 Netlist section keywords
- E.10 Ib section keywords [Go to Page]
- E.10.1 Lead element keywords
- E.10.2 Max_power_level section keywords
- E.10.3 Voltage section keywords
- E.10.4 Current section keywords
- E.10.5 Power section keywords
- E.10.6 Test_criteria section keywords
- Annex F (informative) PDN impedance measurement methods using vector network analyzer [Go to Page]
- F.1 General
- F.2 Conventional one-port method
- F.3 Two-port method for low impedance measurement
- F.4 Two-port method for high impedance measurement
- Annex G (informative) RFIP measurement method description [Go to Page]
- G.1 General
- G.2 Obtaining immunity parameters
- Annex H (informative) Immunity simulation with ICIM model based on pass/fail test [Go to Page]
- H.1 ICIM-CI macro-model of a voltage regulator IC [Go to Page]
- H.1.1 General
- H.1.2 PDN extraction
- H.1.3 IB extraction
- H.1.4 SPICE-compatible macro-model
- H.2 Application level simulation and failure prediction
- Annex I (informative) Immunity simulation with ICIM model based on non pass/fail test
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Example of ICIM-CI model structure
- Figure 2 – Example of an ICIM-CI model of an electronic board
- Figure 3 – Example of an IBC network
- Figure 4 – ICIM-CI model representation with different blocks
- Figure 5 – CIML inheritance hierarchy
- Figure 6 – Example of a netlist file defining a sub-circuit
- Figure 7 – PDN electrical schematics
- Figure 8 – PDN represented as a one-port black-box
- Figure 9 – PDN represented as S-parameters in Touchstone format
- Figure 10 – PDN represented as two-port S-parameters in Touchstone format
- Figure 11 – Example structure for defining the PDN using circuit elements
- Figure 12 – Example of a single-ended PDN Netlist main circuit definition
- Figure 13 – Example of a single-ended PDN Netlist with both sub-circuit and main circuit definitions
- Figure 14 – Differential input schematic
- Figure 15 – PDN represented as a two-port black-box
- Figure 16 – PDN data format for differential input or output
- Figure 17 – Differential inputs of an operational amplifier example
- Figure 18 – ICIM-CI Model for a 74HC08 component
- Figure 19 – Example IB file obtained from DPI measurement
- Figure 20 – Test setup of the DPI immunity measurement method as specified in IEC 62132-4
- Figure 21 – Principle of single and multi-pin DPI
- Figure 22 – Electrical representation of the DPI test setup
- Figure 23 – Test setup of the RFIP measurement method derived from the DPI method
- Figure 24 – Example setup used for illustrating ICIM-CI hypotheses
- Figure 25 – Example of linearity assumption validation
- Figure 26 – Example of transmitted power criterion validation
- Figure 27 – Use of the ICIM-CI macro-model for simulation
- Figure A.1 – Multiple XML (CIML) files
- Figure A.2 – XML files with data files (*.dat)
- Figure A.3 – XML files with additional files
- Figure B.1 – ICIM-CI description applied to an oscillator stage for extracting IB
- Figure C.1 – Single-ended DI
- Figure C.2 – Differential DI
- Figure C.3 – Two-port representation of a differential DI
- Figure C.4 – Simulation of common-mode injection on a differential DI based on DPI
- Figure C.5 – Equivalent common-mode input impedance of a differential DI
- Figure C.6 – Determination of transmitted power for a differential DI
- Figure D.1 – Test setup on an example LIN transceiver
- Figure D.2 – PDN data in touchstone format (s2p), data measured using VNA
- Figure D.3 – PDN data of leads 6 (LIN) and 7 (VCC)
- Figure D.4 – IB data in ASCII format (.txt), data measured using DPI method – Injection on VCC pin
- Figure D.5 – IB data for injection on VCC pin
- Figure F.1 – Conventional one-port S-parameter measurement
- Figure F.2 – Two-port method for low impedance measurement
- Figure F.3 – Two-port method for high impedance measurement
- Figure G.1 – Test setup of the RFIP measurement method derived from DPI method
- Figure G.2 – Principle of the RFIP measurement method
- Figure H.1 – Electrical schematic for extracting the voltage regulator’s ICIM-CI
- Figure H.2 – ICIM-CI extraction on the voltage regulator example
- Figure H.3 – Example of a SPICE-compatible ICIM-CI macro-model of the voltage regulator
- Figure H.4 – Example of a board level simulation on the voltage regulator’s ICIM-CI with PCB model and other components including parasitic elements
- Figure H.5 – Incident power as a function of frequency that is required to create a defect with a 10 nF filter
- Figure I.1 – Example of an IB file for a given failure criterion
- Figure I.2 – Comparison of simulated transmitted power and measured immunity behaviour
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Attributes of Lead keyword in the Lead_definitions section
- Table 2 – Compatibility between the Mode and Type fields for correct CIML annotation
- Table 3 – Subckt definition
- Table 4 – Definition of the Validity section
- Table 5 – Definition of the Lead keyword for Pdn section
- Table 6 – Valid data formats and their default units in the Pdn section
- Table 7 – Valid file extensions in the Pdn section
- Table 8 – Valid fields of the Lead keyword for single-ended PDN
- Table 9 – Netlist definition
- Table 10 – Valid fields of the Lead keyword for differential PDN
- Table 11 – Differences between the Pdn and Ibc section fields
- Table 12 – Valid fields of the Lead keyword for IBC definition
- Table 13 – Definition of the Lead keyword in Ib section
- Table 14 – Max_power_level definition
- Table 15 – Voltage, Current and Power definition
- Table 16 – Test_criteria definition
- Table 17 – Default values of Unit_voltage, Unit_current and Unit_power tags as a function of data format
- Table 18 – Valid file extensions in the Ib section
- Table 19 – Example of IB table pass/fail criteria
- Table A.1 – Valid logarithmic units
- Table C.1 – Single-ended parameter conversion
- Table C.2 – Differential parameter conversion
- Table C.3 – Power calculation
- Table E.1 – Root element keywords
- Table E.2 – Header section keywords
- Table E.3 – Validity section keywords
- Table E.4 – Global keywords
- Table E.5 – Lead element definition
- Table E.6 – Lead_definitions section keywords
- Table E.7 – Macromodels section keywords
- Table E.8 – Lead element keywords in the Pdn section
- Table E.9 – Netlist section keywords
- Table E.10 – Lead element keywords in the Ibc section
- Table E.11 – Lead element keywords in the Ib section
- Table E.12 – Max_power_level section keywords
- Table E.13 – Voltage section keywords
- Table E.14 – Current section keywords
- Table E.15 – Power section keywords
- Table E.16 – Test_criteria section keywords
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- 1 Domaine d’application
- 2 Références normatives
- 3 Termes, définitions, abréviations et conventions [Go to Page]
- 3.1 Termes et définitions
- 3.2 Abréviations
- 3.3 Conventions
- 4 Philosophie
- 5 Description du modèle ICIM-CI [Go to Page]
- 5.1 Généralités
- 5.2 Description du PDN
- 5.3 Description du couplage interblocs (IBC)
- 5.4 Description de l'IB
- 6 Format CIML [Go to Page]
- 6.1 Généralités
- 6.2 Structure CIML
- 6.3 Mots clés globaux
- 6.4 Section Header
- 6.5 Lead definitions (définitions des connexions)
- 6.6 Macromodèles SPICE
- 6.7 Section Validity [Go to Page]
- 6.7.1 Généralités
- 6.7.2 Définitions d'attributs
- 6.8 PDN [Go to Page]
- 6.8.1 Généralités
- 6.8.2 Définitions d'attributs
- 6.8.3 PDN pour entrée ou sortie asymétrique
- 6.8.4 PDN d'une entrée différentielle
- 6.8.5 Description du PDN multiaccès
- 6.9 IBC [Go to Page]
- 6.9.1 Généralités
- 6.9.2 Définitions d'attributs
- 6.10 IB [Go to Page]
- 6.10.1 Généralités
- 6.10.2 Définitions d'attributs
- 6.10.3 Description
- 7 Extraction [Go to Page]
- 7.1 Généralités
- 7.2 Contraintes environnementales d'extraction
- 7.3 Extraction PDN [Go to Page]
- 7.3.1 Généralités
- 7.3.2 Mesurage de paramètres S/Z/Y
- 7.3.3 Technique RFIP
- 7.4 Extraction IB [Go to Page]
- 7.4.1 Généralités
- 7.4.2 Méthode d'essai d'injection directe de puissance RF
- 7.4.3 Méthode d'essai de sonde d'injection RF
- 7.5 IBC
- 8 Validation des hypothèses ICIM-CI [Go to Page]
- 8.1 Généralités
- 8.2 Linéarité
- 8.3 Critère d'immunité par rapport à la puissance transmise
- 9 Utilisation du modèle
- Annexes [Go to Page]
- Annexe A (normative) Définitions préliminaires pour la représentation XML [Go to Page]
- A.1 Éléments de base XML [Go to Page]
- A.1.1 Déclaration XML
- A.1.2 Éléments de base
- A.1.3 Élément racine
- A.1.4 Commentaires
- A.1.5 Terminaisons de ligne
- A.1.6 Hiérarchie des éléments
- A.1.7 Attributs d'élément
- A.2 Exigences relatives au mot clé [Go to Page]
- A.2.1 Généralités
- A.2.2 Caractères de mot clé
- A.2.3 Syntaxe de mot clé
- A.2.4 Structure de fichier
- A.2.5 Valeurs
- Annexe B (informative) Exemple d'ICIM-CI avec intensité de perturbation
- Annexe C (informative) Conversions entre les types de paramètres [Go to Page]
- C.1 Généralités
- C.2 Entrée ou sortie asymétrique
- C.3 Entrée ou sortie différentielle
- Annexe D (informative) Exemple de macromodèle ICIM-CI au format CIML
- Annexe E (normative)M ots clés CIML valides et utilisation [Go to Page]
- E.1 Mots clés d'élément racine
- E.2 Mots clés d'en-tête de fichier
- E.3 Mots clés de la section Validity
- E.4 Mots clés globaux
- E.5 Mot clé Lead
- E.6 Attributs de la section Lead_definitions
- E.7 Attributs de la section Macromodels
- E.8 Mots clés de la section Pdn [Go to Page]
- E.8.1 Mots clés de l'élément Lead
- E.8.2 Mots clés de la section Netlist
- E.9 Mots clés de la section Ibc [Go to Page]
- E.9.1 Mots clés de l'élément Lead
- E.9.2 Mots clés de la section Netlist
- E.10 Mots clés de la section Ib [Go to Page]
- E.10.1 Mots clés de l'élément Lead
- E.10.2 Mots clés de la section Max_power_level
- E.10.3 Mots clés de la section Voltage
- E.10.4 Mots clés de la section Current
- E.10.5 Mots clés de la section Power
- E.10.6 Mot clé de la section Test_criteria
- Annexe F (informative) Méthodes de mesure de l'impédance PDN à l'aide d'un analyseur de réseau vectoriel [Go to Page]
- F.1 Généralités
- F.2 Méthode conventionnelle à un accès
- F.3 Méthode à deux accès pour le mesurage de faible impédance
- F.4 Méthode à deux accès pour le mesurage d'impédance élevée
- Annexe G (informative) Description de la méthode de mesure RFIP [Go to Page]
- G.1 Généralités
- G.2 Obtention des paramètres d'immunité
- Annexe H (informative) Simulation d'immunité avec le modèle ICIM reposant sur l'essai de réussite/échec [Go to Page]
- H.1 Macromodèle ICIM-CI d'un CI de régulateur de tension [Go to Page]
- H.1.1 Généralités
- H.1.2 Extraction PDN
- H.1.3 Extraction IB
- H.1.4 Macromodèle compatible avec SPICE
- H.2 Simulation et prévision de défaillance du niveau de l'application
- Annexe I (informative) Simulation d'immunité avec le modèle ICIM reposant sur l'essai de non-réussite/échec
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Exemple de structure de modèle ICIM-CI
- Figure 2 – Exemple d'un modèle ICIM-CI d'une carte électronique
- Figure 3 – Exemple de réseau IBC
- Figure 4 – Représentation du modèle ICIM-CI avec différents blocs
- Figure 5 – Hiérarchie d'héritage CIML
- Figure 6 – Exemple de fichier netlist définissant un sous-circuit
- Figure 7 – Schémas électriques du PDN
- Figure 8 – PDN représenté sous la forme d'une boîte noire à un accès
- Figure 9 – PDN représenté sous la forme de paramètres S au format Touchstone
- Figure 10 – PDN représenté sous la forme de paramètres S à deux accès au format Touchstone
- Figure 11 – Exemple de structure pour la définition du PDN à l'aide des éléments de circuit
- Figure 12 – Exemple de définition de circuit principal PDN Netlist asymétrique
- Figure 13 – Exemple de PDN Netlist asymétrique avec définitions de sous-circuit et de circuit principal
- Figure 14 – Schéma d'entrée différentielle
- Figure 15 – PDN représenté sous la forme d'une boîte noire à deux accès
- Figure 16 – Format de données PDN pour une entrée ou sortie différentielle
- Figure 17 – Exemple d'entrées différentielles d'un amplificateur opérationnel
- Figure 18 – Modèle ICIM-CI d'un composant 74HC08
- Figure 19 – Exemple de fichier IB obtenu par suite d’un mesurage DPI
- Figure 20 – Montage d'essai de la méthode de mesure d'immunité DPI tel que spécifié dans l'IEC 62132-4
- Figure 21 – Principe d'injection directe de puissance (DPI) à une seule broche et à broches multiples
- Figure 22 – Représentation électrique du montage d'essai DPI
- Figure 23 – Montage d'essai de la méthode de mesure RFIP déduite de la méthode DPI
- Figure 24 – Exemple de montage utilisé pour représenter les hypothèses ICIM-CI
- Figure 25 – Exemple de validation de l'hypothèse de linéarité
- Figure 26 – Exemple de validation de critère de puissance transmise
- Figure 27 – Utilisation du macromodèle ICIM-CI pour la simulation
- Figure A.1 – Fichiers XML (CIML) multiples
- Figure A.2 – Fichiers XML avec fichiers de données (*.dat)
- Figure A.3 – Fichiers XML avec fichiers supplémentaires
- Figure B.1 – Description ICIM-CI appliquée à l'étage oscillateur pour extraire l'IB
- Figure C.1 – DI asymétrique
- Figure C.2 – DI différentielle
- Figure C.3 – Représentation à deux accès d'une DI différentielle
- Figure C.4 – Simulation de l'injection en mode commun sur une DI différentielle en fonction du DPI
- Figure C.5 – Impédance d'entrée de mode commun équivalente d'une DI différentielle
- Figure C.6 – Détermination de la puissance transmise pour une DI différentielle
- Figure D.1 – Montage d'essai sur un exemple d'émetteur-récepteur LIN
- Figure D.2 – Données PDN au format touchstone (s2p), données mesurées à l'aide d'un analyseur de réseau vectoriel
- Figure D.3 – Données PDN de la connexion 6 (LIN) et de la connexion 7 (VCC)
- Figure D.4 – Données IB au format ASCII (.txt), données mesurées par la méthode DPI ( Injection sur la broche VCC
- Figure D.5 – Données IB pour l'injection sur la broche VCC
- Figure F.1 – Mesurage conventionnel de paramètres S à un accès
- Figure F.2 – Méthode à deux accès pour le mesurage de faible impédance
- Figure F.3 – Méthode à deux accès pour le mesurage d'impédance élevée
- Figure G.1 – Montage d'essai de la méthode de mesure RFIP déduite de la méthode DPI
- Figure G.2 – Principe de la méthode de mesure RFIP
- Figure H.1 – Schéma électrique d'extraction de l'ICIM-CI du régulateur de tension
- Figure H.2 – Exemple d'extraction ICIM-CI sur le régulateur de tension
- Figure H.3 – Exemple de macromodèle ICIM-CI compatible avec SPICE du régulateur de tension
- Figure H.4 – Exemple de simulation au niveau d'une carte sur l'ICIM-CI du régulateur de tension avec modèle de CCI et autres composants contenant des éléments parasites
- Figure H.5 – Puissance incidente en fonction de la fréquence exigée pour créer un défaut avec un filtre 10 nF
- Figure I.1 – Exemple de fichier IB pour un critère de défaillance donné
- Figure I.2 – Comparaison de la puissance transmise simulée et du comportement d'immunité mesuré
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Attributs du mot clé Lead dans la section Lead_definitions
- Tableau 2 – Compatibilité entre le champ Mode et le champ Type pour annotation CIML correcte
- Tableau 3 – Définition Subckt
- Tableau 4 – Définition de la section Validity
- Tableau 5 – Définition du mot clé Lead pour la section Pdn
- Tableau 6 – Formats valides de données et leurs unités par défaut dans la section Pdn
- Tableau 7 – Extensions de fichiers valides de la section Pdn
- Tableau 8 – Champs valides du mot clé Lead pour le PDN asymétrique
- Tableau 9 – Définition de Netlist
- Tableau 10 – Champs valides du mot clé Lead pour le PDN différentiel
- Tableau 11 – Différences entre les champs de la section Pdn et de la section Ibc
- Tableau 12 – Champs valides du mot clé Lead pour la définition d'IBC
- Tableau 13 – Définition du mot clé Lead de la section Ib
- Tableau 14 – Définition de Max_power_level
- Tableau 15 – Définition de Voltage, Current et Power
- Tableau 16 – Définition de Test_criteria
- Tableau 17 – Valeurs par défaut des balises Unit_voltage, Unit_current et Unit_power en fonction du format de données
- Tableau 18 – Extensions valides de fichiers de la section Ib
- Tableau 19 – Exemple de critères de réussite/échec du tableau IB
- Tableau A.1 – Unités logarithmiques valides
- Tableau C.1 – Conversion de paramètres asymétriques
- Tableau C.2 – Conversion de paramètres différentiels
- Tableau C.3 – Calcul de la puissance
- Tableau E.1 – Mots clés d'élément racine
- Tableau E.2 – Mots clés de la section Header
- Tableau E.3 – Mots clés de la section Validity
- Tableau E.4 – Mots clés globaux
- Tableau E.5 – Définition de l'élément Lead
- Tableau E.6 – Mots clés de la section Lead_definitions
- Tableau E.7 – Mots clés de la section Macromodels
- Tableau E.8 – Mots clés de l'élément Lead de la section Pdn
- Tableau E.9 – Mots clés de la section Netlist
- Tableau E.10 – Mots clés de l'élément Lead de la section Ibc
- Tableau E.11 – Mots clés de l'élément Lead de la section Ib
- Tableau E.12 – Mots clés de la section Max_power_level
- Tableau E.13 – Mots clés de la section Voltage
- Tableau E.14 – Mots clés de la section Current
- Tableau E.15 – Mots clés de la section Power
- Tableau E.16 – Mots clés de la section Test_criteria [Go to Page]
Copyright 2026 Compu-tecture, Inc.
All Rights Reserved.
About Us /
Careers /
support@madcad.com /
1.800.798.9296