MADCAD.com - The Cloud-Based Reference Library

Not a subscriber? Register for a trial account.

Username:
Password:

Incorrect username/password.

Already a subscriber?

MADCAD.com Free Trial

Sign up for a 3 day free trial to explore the MADCAD.com interface, PLUS access the
2009 International Building Code to see how it all works.

If you like to setup a quick demo, let us know at support@madcad.com
or +1 800.798.9296 and we will be happy to schedule a webinar for you.

Email *
Password *
Confirm *
First Name *
Last Name *
Title
Company Name *
Company Size *
Industry *
Address *
Address 2
City *
State *	Zip *
Country *
Phone *
How did you hear about MADCAD.com? *

⨯To continue with accurate pricing,
please select your company type below:

Large goverment organizations

Large multi-national corporation (more than $5B annual revenue)

None of the above

Your company has a special pricing case for IEEE.
For pricing, please contact us by filling out the form.

Full name*
Email*
Phone
Your selection

⨯We need your input!

Are you a code official in a jurisdiction with less than 300,000 population?

Yes No

This item is only available for the code officials of jurisdictions less then 300K population.

If you do not meet the criteria item will be removed and you will be able to continue shopping other items.

⨯ We need your input!

Your company has a special pricing case for ASME.
Please make sure the information you provide below is accurate.

Company Industry
Number Of Employees
Revenue

Pricing for the ASME publications in the store is for a 1-4 employee company in Construction Industry with revenue under $500,000.
If correct company info does not match what is publicly available info we will suspend the access and contact you for correction.
Please call 1-800-798-9296 if you have any questions.
If your company has more than 5,000 employee or more than 500 mil revenue please email us at info@madcad.com to receive a special quote, use "ASME Quote" on the subject line.

⨯ We need your input!

Your company has a special pricing case for BSI.
Please make sure the information you provide below is accurate.

Number Of Employees
Number Of Locations
Academic?
In UK?

If correct company info does not match what is publicly available info we will suspend the access and contact you for correction.
Please call 1-800-798-9296 if you have any questions.

eLibrary > BS EN 62493:2015 Assessment of lighting equipment related to human exposure to electromagnetic field >

BS EN 62493:2015 Assessment of lighting equipment related to human exposure to electromagnetic field, 2015

30322183-VOR.pdf [Go to Page]
English [Go to Page]
CONTENTS
FOREWORD
INTRODUCTION
1 Scope
2 Normative references
3 Terms, definitions, physical quantities, units and abbreviations [Go to Page]
3.1 Terms and definitions
3.2 Physical quantities and units
3.3 Abbreviations
4 Limits [Go to Page]
4.1 General
4.2 Unintentional radiating part of lighting equipment [Go to Page]
4.2.1 General
4.2.2 Lighting equipment deemed to comply with the Van der Hoofden test without testing
4.2.3 Application of limits
4.3 Intentional radiating part of lighting equipment
5 General requirements Van der Hoofden test [Go to Page]
5.1 Measurand
5.2 Supply voltage and frequency
5.3 Measurement frequency range
5.4 Ambient temperature
5.5 Measurement equipment requirements
5.6 Measurement instrumentation uncertainty
5.7 Test report
5.8 Evaluation of results
6 Measurement procedure for the Van der Hoofden test [Go to Page]
6.1 General
6.2 Operating conditions [Go to Page]
6.2.1 Operating conditions for lighting equipment
6.2.2 Operating conditions for specific lighting equipment
6.2.3 Operating conditions for lighting equipment with intentional radiators
6.3 Measurement distance
6.4 Measurement set-up [Go to Page]
6.4.1 General
6.4.2 Measurement set-up for specific lighting equipment
6.5 Location of measurement test head
6.6 Calculation of the results
7 Assessment procedure intentional radiators [Go to Page]
7.1 General
7.2 Low-power exclusion method [Go to Page]
7.2.1 General
7.2.2 Determination of the total radiated power
7.2.3 Determination of the low-power exclusion level
7.2.4 Summation of multiple transmitters
7.3 Application of the EMF product standard for body worn-equipment
7.4 Application of the EMF product standard for base stations
7.5 Application of another EMF standard
Annexes [Go to Page]
Annex A (normative) Measurement distances
Annex B (informative) Location of measurement test head
Annex C (informative) Exposure limits [Go to Page]
C.1 General
C.2 ICNIRP [Go to Page]
C.2.1 ICNIRP 1998
C.2.2 ICNIRP 2010
C.3 IEEE
Annex D (informative) Rationale measurement and assessment method [Go to Page]
D.1 General
D.2 Induced internal electric field [Go to Page]
D.2.1 General
D.2.2 Induced electric field due to the magnetic field; Eeddy(fi,dloop)
D.2.3 Induced electric field due to the electric field; Ecap(fi,d)
D.3 Thermal effects from 100 kHz to 300 GHz [Go to Page]
D.3.1 General
D.3.2 The 100 kHz to 30 MHz contribution to the thermal effects
D.3.3 The 30 MHz to 300 MHz contribution to the thermal effects
D.3.4 Overall conclusion for the contribution to thermal effects
Annex E (normative) Practical internal electric-field measurement and assessment method [Go to Page]
E.1 Measurement of induced internal electric field
E.2 Calculation program
E.3 Compliance criterion for the Van der Hoofden head test
Annex F (normative) Protection network [Go to Page]
F.1 Calibration of the protection network
F.2 Calculation of the theoretical characteristic of the protection network
Annex G (informative) Measurement instrumentation uncertainty
Annex H (informative) Equipment deemed to comply
Annex I (informative) Intentional radiators [Go to Page]
I.1 General
I.2 Intentional radiators in lighting equipment
I.3 Properties of antennas in lighting applications
I.4 Exposure assessment approach [Go to Page]
I.4.1 General
I.4.2 Determination of average total radiated power Pint,rad
I.4.3 Determination of the low-power exclusion level Pmax
I.5 Multiple transmitters in a luminaire
I.6 Exposure to multiple luminaires
I.7 References in Annex I
Bibliography
Figures [Go to Page]
Figure 1 – Compliance routes and pass/fail criteria for lighting equipment
Figure 2 – The Van der Hoofden test head
Figure 3 – Example of a protection circuit
Figure 4 – Measurement set-up
Figure 5 – Compliance demonstration procedure for the intentional-transmitter part of the lighting equipment
Figure B.1 – Location of measurement point in the transverse direction of lighting equipment – side view
Figure B.2 – Location of measurement points in the longitude direction of lighting equipment – side view
Figure B.3 – Location of measurement points in the longitude direction of lighting equipment; in the direction of illumination
Figure B.4 – Location of measurement point for lighting equipment with rotationally symmetrical dimensions
Figure B.5 – Location of measurement point for lighting equipment with rotationally symmetrical dimensions; in the direction of illumination
Figure B.6 – Location of measurement point for lighting equipment with the same dimensions in the x- and y- axis
Figure B.7 – Location of measurement point(s) for lighting equipment with single capped lamp (360° illumination)
Figure B.8 – Location of measurement points for lighting equipment with a remote controlgear
Figure B.9 – Location of measurement point for an independent electronic converter
Figure B.10 – Location of measurement point(s) for an uplighter (floor standing/suspended)
Figure D.1 – Overview measurement and assessment method
Figure D.2 – Distances of the head, loop and measurement set-up
Figure D.3 – Maximum current in the 2 m LLA as function of the frequency
Figure D.4 – Induced internal electric field and associated limit levels
Figure D.5 – Example of magnetic-field test result using the LLA
Figure D.6 – Distances of the head and measurement set-up
Figure D.7 – Plot of Equation (D.20)
Figure D.8 – Example of the CM-current measured using a conducted emission test
Figure F.1 – Test set-up for normalization of the network analyser
Figure F.2 – Test set-up for measurement of the voltage division factor using a network analyser
Figure F.3 – Calculated theoretical characteristic for the calibration of the protection network
Figure H.1 – Flow chart to determine applicability deemed to comply without F factor measurement
Figure I.1 – Luminaire with a transmitting antenna in a room
Figure I.2 – Impact of a conducting ceiling/plane
Figure I.3 – Electric field of a small electrical dipole: analytical formula vs far-field approximation
Figure I.4 – Electric field as a function of distance, antenna gain and input power (far-field approximation)
Figure I.5 – Impact of pulsed signals on the average exposure
Tables [Go to Page]
Table 1 – Physical quantities and units
Table 2 – Receiver or spectrum analyser settings
Table A.1 – Lighting equipment and measurement distances
Table C.1 – Basic restrictions for general public exposure to time varying electric and magnetic fields for frequencies between 100 kHz and 10 GHz
Table C.2 – Basic restrictions for general public exposure to time varying electric and magnetic fields for frequencies up to 10 MHz
Table C.3 – IEEE basic restrictions (BR) for the general public
Table C.4 – IEEE basic restrictions (BR) between 100 kHz and 3 GHz for the general public
Table D.1 – Induced internal electric field calculations
Table D.2 – Calculation main contributions
Table D.3 – Frequency steps for the amplitude addition that equals 1,11 times B6
Table D.4 – Frequency steps for the power addition that equals 0,833 times B6
Table D.5 – Field strength limits according to CISPR 15
Table E.1 – Conductivity as a function of frequency (see Table C.1 of IEC 62311:2007)
Table G.1 – Uncertainty calculation for the measurement method described in Clauses 5 and 6 in the frequency range from 20 kHz to 10 MHz
Table G.2 – Comments and information to Table G.1
Table I.1 – Overview of wireless radio technologies that might be applied in lighting systems
Français [Go to Page]
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS
INTRODUCTION
1 Domaine d’application
2 Références normatives
3 Termes, définitions, grandeurs physiques, unités et abréviations [Go to Page]
3.1 Termes et définitions
3.2 Grandeurs physiques et unités
3.3 Abréviations
4 Limites [Go to Page]
4.1 Généralités
4.2 Partie de l’équipement d’éclairage présentant un rayonnement non intentionnel [Go to Page]
4.2.1 Généralités
4.2.2 Equipement d’éclairage considéré comme satisfaisant à l’essai de Van der Hoofden sans essai
4.2.3 Application des limites
4.3 Partie de l’équipement d’éclairage présentant un rayonnement intentionnel
5 Exigences générales de l’essai de Van der Hoofden [Go to Page]
5.1 Mesurage
5.2 Tension et fréquence d’alimentation
5.3 Gamme des fréquences de mesure
5.4 Température ambiante
5.5 Exigences en matière d’équipement de mesure
5.6 Incertitude liée à l'instrumentation de mesure
5.7 Rapport d’essai
5.8 Evaluation des résultats
6 Procédure de mesure pour l’essai de Van der Hoofden [Go to Page]
6.1 Généralités
6.2 Conditions de fonctionnement [Go to Page]
6.2.1 Conditions de fonctionnement de l'équipement d’éclairage
6.2.2 Conditions de fonctionnement d’un équipement d’éclairage spécifique
6.2.3 Conditions de fonctionnement d’un équipement d’éclairage doté de éléments rayonnants intentionnels
6.3 Distance de mesure
6.4 Montage de mesure [Go to Page]
6.4.1 Généralités
6.4.2 Montage de mesure d’un équipement d’éclairage spécifique
6.5 Emplacement de la tête d’essai de mesure
6.6 Calcul des résultats
7 Éléments rayonnants intentionnels de la procédure d’évaluation [Go to Page]
7.1 Généralités
7.2 Méthode d’exclusion à faible puissance [Go to Page]
7.2.1 Généralités
7.2.2 Détermination de la puissance totale rayonnée
7.2.3 Détermination du niveau d'exclusion à faible puissance
7.2.4 Addition d’émetteurs multiples
7.3 Application de la norme de produit sur les EMF pour les équipements portés près du corps
7.4 Application de la norme de produit sur les EMF pour les stations de base
7.5 Application d’une autre norme sur les EMF
Annexes [Go to Page]
Annexe A (normative) Distances de mesure
Annexe B (informative) Emplacement de la tête d'essai de mesure
Annexe C (informative) Limites d’exposition [Go to Page]
C.1 Généralités
C.2 ICNIRP [Go to Page]
C.2.1 ICNIRP 1998
C.2.2 ICNIRP 2010
C.3 IEEE
Annexe D (informative) Méthode justificative d'évaluation et de mesure [Go to Page]
D.1 Généralités
D.2 Champ électrique interne induit [Go to Page]
D.2.1 Généralités
D.2.2 Champ électrique induit dû au champ magnétique; EFoucault(fi,dboucle)
D.2.3 Champ électrique induit dû au champ électrique; Ecap(fi,d)
D.3 Effets thermiques de 100 kHz à 300 GHz [Go to Page]
D.3.1 Généralités
D.3.2 Contribution 100 kHz à 30 MHz aux effets thermiques
D.3.3 Contribution 30 MHz à 300 MHz aux effets thermiques
D.3.4 Conclusion globale concernant la contribution aux effets thermiques
Annexe E (normative) Méthode pratique d'évaluation et de mesure des champs électriques internes [Go to Page]
E.1 Mesure du champ électrique interne induit
E.2 Programme de calcul
E.3 Critère de conformité pour l'essai de tête de Van der Hoofden
Annexe F (normative) Réseau de protection [Go to Page]
F.1 Etalonnage du réseau de protection
F.2 Calcul de la caractéristique théorique du réseau de protection
Annexe G (informative) Incertitude liée à l'instrumentation de mesure
Annexe H (informative) Equipement considéré conforme
Annexe I (informative) Éléments rayonnants intentionnels [Go to Page]
I.1 Généralités
I.2 Éléments rayonnants intentionnels dans les équipements d’éclairage
I.3 Propriétés des antennes dans les applications d’éclairage
I.4 Approche d’évaluation d’exposition [Go to Page]
I.4.1 Généralités
I.4.2 Détermination de la puissance totale rayonnée moyenne Pint,rad
I.4.3 Détermination du niveau d'exclusion à faible puissance Pmax
I.5 Emetteurs multiples d’un luminaire
I.6 Exposition à des luminaires multiples
I.7 Références à l’Annexe I
Bibliographie
Figures [Go to Page]
Figure 1 – Marches à suivre pour l’établissement de la conformité et critères d’acceptation/échec pour l’équipement d’éclairage
Figure 2 – Tête d’essai Van der Hoofden
Figure 3 – Exemple de circuit de protection
Figure 4 – Montage de mesure
Figure 5 – Procédure de démonstration de conformité pourla partie de l’équipement d'éclairage comportant un émetteur intentionnel
Figure B.1 – Emplacement du point de mesure dans la direction transversale de l'équipement d'éclairage – vue de côté
Figure B.2 – Emplacement des points de mesure dans la direction longitudinale de l'équipement d'éclairage – vue de côté
Figure B.3 – Emplacement des points de mesure dans la direction longitudinale de l'équipement d’éclairage; dans la direction de l'éclairement
Figure B.4 – Emplacement du point de mesure d’un équipement d’éclairage dont les dimensions présentent une symétrie de rotation
Figure B.5 – Emplacement du point de mesure d’un équipement d’éclairage dont les dimensions présentent une symétrie de rotation; dans la direction de l'éclairement
Figure B.6 – Emplacement du point de mesure d’un équipement d’éclairage ayant des dimensions identiques sur l'axe x et l'axe y
Figure B.7 – Emplacement du ou des points de mesure d'un équipement d’éclairage avec lampe à un seul culot (éclairage à 360°)
Figure B.8 – Emplacement des points de mesure d’un équipement d’éclairage muni d’un appareillage à distance
Figure B.9 – Emplacement du point de mesure d’unconvertisseur électronique indépendant
Figure B.10 – Emplacement du/des points de mesure d’un luminaire à éclairage dirigé vers le haut (au sol/suspendu)
Figure D.1 – Vue d’ensemble de la méthode d’évaluation et de mesure
Figure D.2 – Distances de la tête, de la boucle et du montage de mesure
Figure D.3 – Courant maximal dans la LLA de 2 m, en fonction de la fréquence
Figure D.4 – Champ électrique interne induit et niveaux limites associés
Figure D.5 – Exemple de résultat d'essai de champ magnétique utilisant la LLA
Figure D.6 – Distances entre la tête et le montage de mesure
Figure D.7 – Courbe de l’Equation (D.20)
Figure D.8 – Exemple du courant cm mesuré au moyen d'un essai d'émission conduite
Figure F.1 – Montage d’essai pour l’étalonnage de l’analyseur de réseau
Figure F.2 – Montage d'essai pour la mesure du facteur de divisionen tension à l’aide d’un analyseur de réseau
Figure F.3 – Caractéristique théorique calculée pour l’étalonnage du réseau de protection
Figure H.1 – Organigramme pour déterminer .l'applicabilitéde la conformité sans mesure de facteur F
Figure I.1 – Luminaire avec antenne d’émission dans une pièce
Figure I.2 – Influence d’un plafond/plan conducteur
Figure I.3 – Champ électrique d'un petit doublet électrique: formule analytique en fonction de l'approximation de champ lointain
Figure I.4 – Champ électrique en fonction de la distance, du gain d’antenne et de la puissance d’entrée (approximation de champ lointain)
Figure I.5 – Influence des signaux d’impulsions sur l’exposition moyenne
Tableaux [Go to Page]
Tableau 1 – Grandeurs physiques et unités
Tableau 2 – Réglages du récepteur ou de l’analyseur de spectre
Tableau A.1 – Equipement d’éclairage et distances de mesure
Tableau C.1 – Restrictions de base concernant l'expositiondu grand public aux champs électriques et magnétiques variant dans le temps, pour des fréquences comprises entre 100 kHz et 10 GHz
Tableau C.2 – Restrictions de base concernant l'expositiondu grand public aux champs électriques et magnétiques variant dans le temps pour des fréquences allant jusqu’à 10 MHz
Tableau C.3 – Restrictions de base (BR) de l’IEEE pour le grand public
Tableau C.4 – Restrictions de base (BR) de l’IEEE entre 100 kHz et 3 GHzpour le grand public
Tableau D.1 – Calculs de champ électrique interne induit
Tableau D.2 – Calcul des contributions du réseau
Tableau D.3 – Pas en fréquence pour l’addition d'amplitude égal à 1,11 fois B6
Tableau D.4 – Pas en fréquence pour l’addition des puissances égal à 0,833 fois B6
Tableau D.5 – Limites d'intensité du champ selon la CISPR 15
Tableau E.1 – Conductivité en fonction de la fréquence(voir Tableau C.1 de l'IEC 62311:2007)
Tableau G.1 – Calcul de l'incertitude pour la méthode de mesure décriteà l'Article 5 et à l'Article 6 dans la gamme de fréquences comprisesentre 20 kHz et 10 MHz
Tableau G.2 – Commentaires et informations relatifs au Tableau G.1
Tableau I.1 – Présentation des technologies radio sans filqui sont susceptibles d'être appliquées aux systèmes d'éclairage [Go to Page]

MADCAD.com Free Trial

Report To Us

Contact us for a custom quote

⨯To continue with accurate pricing,
please select your company type below:

⨯We need your input!

⨯ We need your input!

⨯ We need your input!

⨯We need your input!

⨯We need your input!

Cart Warning

BS EN 62493:2015 Assessment of lighting equipment related to human exposure to electromagnetic field, 2015

MADCAD.com Free Trial

Report To Us

Contact us for a custom quote

⨯To continue with accurate pricing, please select your company type below:

⨯We need your input!

⨯ We need your input!

⨯ We need your input!

⨯We need your input!

⨯We need your input!

Cart Warning

BS EN 62493:2015 Assessment of lighting equipment related to human exposure to electromagnetic field, 2015

⨯To continue with accurate pricing,
please select your company type below: