Cart (0)
- No items in cart.
Total
$0
There is a technical issue about last added item. You can click "Report to us" button to let us know and we resolve the issue and return back to you or you can continue without last item via click to continue button.
Not a subscriber? Register for a trial account.
Already a subscriber? 
MADCAD.com Free Trial
Sign up for a 3 day free trial to explore the MADCAD.com interface, PLUS access the
2009 International Building Code to see how it all works.
If you like to setup a quick demo, let us know at support@madcad.com
or +1 800.798.9296 and we will be happy to schedule a webinar for you.
| Email * | |
| Password * | |
| Confirm * | |
| First Name * | |
| Last Name * | |
| Title | |
| Company Name * | |
| Company Size * | |
| Industry * | |
| Address * | |
| Address 2 | |
| City * | |
| State * |
Zip *
|
| Country * | |
| Phone * | |
| How did you hear about MADCAD.com? * |
|
Reset password
Enter your personal account email address to request
a password reset:
a password reset:
Reset password
Enter your account email address to request
a password reset:
a password reset:
Security check
Please login to your authorized staff account to use this feature.
Are you sure you want to empty the cart?
Report To Us
Contact us for a custom quote
⨯To continue with accurate pricing,
please select your company type below:
⨯We need your input!
Are you a code official in a jurisdiction with less than 300,000 population?
⨯ We need your input!
⨯ We need your input!
⨯We need your input!
Are you an existing Madcad user?
If so, please login to continue with the free items in your cart.
⨯We need your input!
This bundle includes subscribed items.
eLibrary >
IEC 60352-4 Ed. 2.0 b:2020 Solderless connections - Part 4: Non-accessible insulation displacement (ID) connections - General requirements, test methods and practical guidance >
IEC 60352-4 Ed. 2.0 b:2020 Solderless connections - Part 4: Non-accessible insulation displacement (ID) connections - General requirements, test methods and practical guidance, 2020
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- INTRODUCTION
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms and definitions
- 4 Workmanship
- 5 Prerequisites for basic test schedule [Go to Page]
- 5.1 General
- 5.2 Prerequisites for ID terminations [Go to Page]
- 5.2.1 Non-accessible ID terminations materials
- 5.2.2 Non-accessible ID terminations dimensions
- 5.2.3 Non-accessible ID terminations surface finishes
- 5.2.4 Non-accessible ID terminations design features
- 5.3 Prerequisites for wires and conductors [Go to Page]
- 5.3.1 Wire and conductors
- 5.3.2 Conductor materials
- 5.3.3 Wire and conductor dimensions
- 5.3.4 Conductor surface finishes
- 5.3.5 Wire insulation
- 5.4 Non-accessible insulation displacement connections (ID connections)
- 6 Testing [Go to Page]
- 6.1 Overview
- 6.2 General
- 6.3 Standard conditions for testing
- 6.4 Preconditioning
- 6.5 Recovery
- 6.6 Specimen
- 7 Tests [Go to Page]
- 7.1 General examination
- 7.2 Mechanical tests [Go to Page]
- 7.2.1 General
- 7.2.2 Bending of the cable/wire
- 7.2.3 Vibration
- 7.2.4 Repeated connection and disconnection, reusable non-accessible ID terminations
- 7.2.5 Microsection
- 7.3 Electrical tests [Go to Page]
- 7.3.1 General
- 7.3.2 Contact resistance
- 7.3.3 Electrical load and temperature
- 7.4 Climatic tests [Go to Page]
- 7.4.1 General
- 7.4.2 Rapid change of temperature
- 7.4.3 Climatic sequence
- 7.4.4 Flowing mixed gas, corrosion test
- 7.4.5 Damp heat, cyclic
- 8 Test schedules [Go to Page]
- 8.1 General [Go to Page]
- 8.1.1 Overview
- 8.1.2 ID connections with terminations suitable for a range of wire diameters
- 8.1.3 Multipole connectors
- 8.2 Basic test schedule [Go to Page]
- 8.2.1 General
- 8.2.2 Initial examination
- 8.2.3 Testing of non-accessible ID connections
- 8.3 Full test schedule [Go to Page]
- 8.3.1 General
- 8.3.2 Initial examination
- 8.3.3 Testing of non-accessible ID connections
- 8.4 Flow charts
- Annex A (informative)Practical guidance [Go to Page]
- A.1 General information on non-accessible ID connections [Go to Page]
- A.1.1 General
- A.1.2 Advantages of non-accessible ID connections
- A.2 Current-carrying capacity considerations
- A.3 Tool information [Go to Page]
- A.3.1 Wire insertion tool
- A.3.2 Wire extraction tool
- A.3.3 Combination tool
- A.4 Termination information [Go to Page]
- A.4.1 General
- A.4.2 Design features
- A.4.3 Materials
- A.4.4 Surface finishes
- A.5 Wire information [Go to Page]
- A.5.1 Type
- A.5.2 Dimensions
- A.5.3 Surface finishes
- A.5.4 Insulation
- A.5.5 Ribbon cable
- A.6 Connection information [Go to Page]
- A.6.1 General
- A.6.2 ID connections made with more than one wire in one connection slot
- Annex B (informative)Application examples [Go to Page]
- B.1 ID connections [Go to Page]
- B.1.1 ID connections which can be examined by destructive inspection only
- B.1.2 ID connections which can be examined by non-destructive inspection
- B.2 General additional information about ID connections as part of a multipole connector [Go to Page]
- B.2.1 Mounting and bending of wire bundles/cables with contacts having ID connections
- B.2.2 Mating and unmating of multipole connectors with ID contacts
- B.3 Examples for good transversal microsection or negative results (see Figure B.6)
- B.4 Final remarks
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Example of accessible and non-accessible insulation displacement connection
- Figure 2 – Insulation displacement connection
- Figure 3 – Slot
- Figure 4 – Beam
- Figure 5 – Guiding block
- Figure 6 – Test arrangement, bending of the cable/wire
- Figure 7 – Test arrangement, vibration
- Figure 8 – Non-accessible ID connection made with a stranded conductor
- Figure 9 – Non-accessible ID connection made with a solid round conductor
- Figure 10 – Test arrangement, contact resistance
- Figure 11 – Basic test schedule (see 8.2)
- Figure 12 – Full test schedule (see 8.3)
- Figure A.1 – Example of a non-accessible ID connection with two conductors with different cross-sections in one connection slot; wires with stranded conductors
- Figure B.1 – Examples of correct ID connections with closed housing design,opened or visible by microsectioning
- Figure B.2 – Parts of connector housings to ensure correct ID connections (examples)
- Figure B.3 – Mounting of wire bundles/cables with contacts having ID connections
- Figure B.4 – Bending of wire bundles of connectors
- Figure B.5 – Mating and unmating of multipole connectors
- Figure B.6 – IDC: transversal microsection
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Vibration, preferred test severities
- Table 2 – Contact resistance of non-accessible ID connections,maximum permitted values
- Table 3 – Number of specimens required
- Table 4 – Qualification test schedule – Test group 1
- Table 5 – Qualification test schedule – Test group 2
- Table 6 – Qualification test schedule – Test group 3
- Table 7 – Qualification test schedule – Test group 4
- Table 8 – Qualification test schedule – Test group A
- Table 9 – Qualification test schedule – Test group B
- Table 10 – Qualification test schedule – Test group C
- Table 11 – Qualification test schedule – Test group D
- Table 12 – Qualification test schedule – Test group E
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- INTRODUCTION
- 1 Domaine d'application
- 2 Références normatives
- 3 Termes et définitions
- 4 Exécution
- 5 Conditions préalables relatives au programme d'essais de base [Go to Page]
- 5.1 Généralités
- 5.2 Conditions préalables relatives aux contacts CAD [Go to Page]
- 5.2.1 Matières des contacts CAD non accessibles
- 5.2.2 Dimensions des contacts CAD non accessibles
- 5.2.3 Traitements de surface des contacts CAD non accessibles
- 5.2.4 Caractéristiques de conception des contacts CAD non accessibles
- 5.3 Conditions préalables relatives aux fils et aux conducteurs [Go to Page]
- 5.3.1 Fils et conducteurs
- 5.3.2 Matières des conducteurs
- 5.3.3 Dimensions des fils et des conducteurs
- 5.3.4 Traitements de surface des conducteurs
- 5.3.5 Isolant du fil
- 5.4 Connexions autodénudantes non accessibles (connexions CAD)
- 6 Essais [Go to Page]
- 6.1 Vue d'ensemble
- 6.2 Généralités
- 6.3 Conditions normales d'essai
- 6.4 Préconditionnement
- 6.5 Reprise
- 6.6 Eprouvette
- 7 Essais [Go to Page]
- 7.1 Examen général
- 7.2 Essais mécaniques [Go to Page]
- 7.2.1 Généralités
- 7.2.2 Pliage du câble/fil
- 7.2.3 Vibrations
- 7.2.4 Recâblage des connexions, contacts CAD non accessibles réutilisables
- 7.2.5 Microsection
- 7.3 Essais électriques [Go to Page]
- 7.3.1 Généralités
- 7.3.2 Résistance de contact
- 7.3.3 Charge électrique et température
- 7.4 Essais climatiques [Go to Page]
- 7.4.1 Généralités
- 7.4.2 Variations rapides de température
- 7.4.3 Séquence climatique
- 7.4.4 Essai de corrosion dans un flux de mélange de gaz
- 7.4.5 Chaleur humide, cyclique
- 8 Programme d'essais [Go to Page]
- 8.1 Généralités [Go to Page]
- 8.1.1 Aperçu
- 8.1.2 Connexions CAD avec contacts appropriés pour une gamme de diamètres de fil
- 8.1.3 Connecteurs multicontacts
- 8.2 Programme d'essais de base [Go to Page]
- 8.2.1 Généralités
- 8.2.2 Examen initial
- 8.2.3 Essais de connexions CAD non accessibles
- 8.3 Programme d'essais complet [Go to Page]
- 8.3.1 Généralités
- 8.3.2 Examen initial
- 8.3.3 Essais de connexions CAD non accessibles
- 8.4 Tableaux synoptiques
- Annexe A (informative)Guide pratique [Go to Page]
- A.1 Informations générales sur les connexions CAD non accessibles [Go to Page]
- A.1.1 Généralités
- A.1.2 Avantages des connexions CAD non accessibles
- A.2 Considérations sur le courant limite
- A.3 Informations sur les outils [Go to Page]
- A.3.1 Outil d'insertion du fil
- A.3.2 Outil d'extraction des fils
- A.3.3 Outil combiné
- A.4 Informations sur les contacts [Go to Page]
- A.4.1 Généralités
- A.4.2 Caractéristiques de conception
- A.4.3 Matières
- A.4.4 Traitements de surface
- A.5 Informations sur les fils [Go to Page]
- A.5.1 Type
- A.5.2 Dimensions
- A.5.3 Traitements de surface
- A.5.4 Isolant
- A.5.5 Câble en nappe
- A.6 Informations sur la connexion [Go to Page]
- A.6.1 Généralités
- A.6.2 Connexions CAD comportant plus d'un fil dans la fente de connexion
- Annexe B (informative)Exemples d'application [Go to Page]
- B.1 Connexions CAD [Go to Page]
- B.1.1 Connexions CAD qui peuvent uniquement être examinées par un contrôle destructif
- B.1.2 Connexions CAD qui peuvent être examinées par un contrôle non destructif
- B.2 Informations générales supplémentaires sur les connexions CAD des connecteurs multicontacts [Go to Page]
- B.2.1 Montage et cambrage des torons de fils ou des câbles avec contacts ayant des connexions CAD
- B.2.2 Accouplement et désaccouplement des connecteurs multicontacts avec contacts CAD
- B.3 Exemples de bonnes microsections transversales ou de résultats négatifs (voir Figure B.6)
- B.4 Remarques finales
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Exemple de connexions autodénudantes accessibles et non accessibles
- Figure 2 – Connexion autodénudante
- Figure 3 – Fente
- Figure 4 – Paroi
- Figure 5 – Bloc de guidage
- Figure 6 – Montage d'essai, pliage du câble/fil
- Figure 7 – Montage d'essai, vibrations
- Figure 8 – Connexion CAD non accessible réalisée avec un conducteur divisé
- Figure 9 – Connexion CAD non accessible réaliséeavec un conducteur cylindrique massif
- Figure 10 – Montage d'essai, résistance de contact
- Figure 11 – Programme d'essais de base (voir 8.2)
- Figure 12 – Programme d'essais complet (voir 8.3)
- Figure A.1 – Exemple de connexion CAD non accessible avec deux conducteurs de sections différentes dans une fente de connexion; fils à conducteurs divisés
- Figure B.1 – Exemples de connexions CAD correctes cachéesdans le boîtier ouvert ou visible par microsections
- Figure B.2 – Parties de boîtier de connecteur qui assurentdes connexions CAD correctes (pour exemples)
- Figure B.3 – Montage des torons de fils ou des câblesavec contacts ayant des connexions CAD
- Figure B.4 – Pliage de torons de fils de connecteurs
- Figure B.5 – Accouplement et désaccouplement de connecteurs multicontacts
- Figure B.6 – CAD: microsection transversale
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Vibrations, sévérités d'essai privilégiées
- Tableau 2 – Résistance de contact des connexions CAD non accessibles,valeurs maximales admises
- Tableau 3 – Nombre d'éprouvettes exigé
- Tableau 4 – Programme d'essais de qualification – Groupe d'essais 1
- Tableau 5 – Programme d'essais de qualification – Groupe d'essais 2
- Tableau 6 – Programme d'essais de qualification – Groupe d'essais 3
- Tableau 7 – Programme d'essais de qualification – Groupe d'essais 4
- Tableau 8 – Programme d'essais de qualification – Groupe d'essais A
- Tableau 9 – Programme d'essais de qualification – Groupe d'essais B
- Tableau 10 – Programme d'essais de qualification – Groupe d'essais C
- Tableau 11 – Programme d'essais de qualification – Groupe d'essais D
- Tableau 12 – Programme d'essais de qualification – Groupe d'essais E [Go to Page]
Copyright 2026 Compu-tecture, Inc.
All Rights Reserved.
About Us /
Careers /
support@madcad.com /
1.800.798.9296